用戶名: 密碼: 驗證碼:

EXFO強強聯(lián)手 迎接下一代網(wǎng)絡(luò)的光子集成電路(PIC)測試挑戰(zhàn)

摘要:EXFO攜手Hewlett-Packard Enterprise(HPE)以及MPI Corporation三家行業(yè)創(chuàng)新公司強強聯(lián)手,為破解光學(xué)元件測試的難題,更好迎接下一代網(wǎng)絡(luò)的PIC測試挑戰(zhàn)推出了更快、更可靠的測量解決方案。

  ICC訊 強強聯(lián)手,化虛為實!EXFO攜手Hewlett-Packard Enterprise(HPE)以及MPI Corporation三家行業(yè)創(chuàng)新公司強強聯(lián)手,為破解光學(xué)元件測試的難題,更好迎接下一代網(wǎng)絡(luò)的PIC測試挑戰(zhàn)推出了更快、更可靠的測量解決方案。

  這款光子集成電路PIC)測試解決方案已經(jīng)從概念變成現(xiàn)實,并成功在3月于圣地亞哥舉行的OFC 2020大會上進行了現(xiàn)場演示。

  光測試始終是元件制造過程中的一個主要瓶頸,因為與電子測試相比,光晶圓測試的容限更加嚴(yán)格,甚至占到最終產(chǎn)品測試和組裝成本的80%。

  EXFO、HPE和MPI協(xié)作開發(fā)的解決方案可解決這個問題,使晶圓測試變得更快、更可靠,最終幫助元件制造商提高上市速度。由于硅光子晶圓是高速數(shù)據(jù)中心和5G網(wǎng)絡(luò)新技術(shù)的關(guān)鍵組成部分,因此經(jīng)過改進的PIC測試在下一代網(wǎng)絡(luò)中會更加重要。

  5G的發(fā)展造成數(shù)據(jù)量的大幅增加,與數(shù)據(jù)中心之間的高速互聯(lián)也變得更加緊密,因為網(wǎng)絡(luò)元件的數(shù)量十分龐大,所以在網(wǎng)絡(luò)設(shè)計和部署的每個階段都進行測試就變得非常關(guān)鍵。

  為我們介紹EXFO、HPE和MPI

  協(xié)作解決方案的嘉賓有

  Q&A Lawrence,你能介紹一下這款由EXFO,HPE和MPI聯(lián)合開發(fā)的測試解決方案嗎?

  我們?nèi)夜緮y手合作,開發(fā)出了一種精簡、快速、準(zhǔn)確的PIC測試方法,可以實現(xiàn)一站式測試,以緩解任何可能的元件測試?yán)щy并加快上市時間。

  三家公司的產(chǎn)品具備很高的互操作性,因此可以組成一款功耗低、高度集成和自動化的晶圓級PIC測試解決方案,比以往的方案具有更高的可靠性、靈活性和可擴展性。這些快速、準(zhǔn)確的測量支持從研發(fā)實驗室測試到全面生產(chǎn)的各種應(yīng)用。

  Q&A Ashkan,三家公司是如何聯(lián)合起來打造這款解決方案的?

  作為各自領(lǐng)域的專家,我們這三家公司經(jīng)常會攜手合作以滿足客戶的需求,所以此次我們將各自的技術(shù)結(jié)合起來,提供這款全自動的測試解決方案也就順理成章了。

  此次合作的主要目的是通過共同打造一款解決方案來實現(xiàn)互操作性,從而提供一種自動、有效的晶圓級測試方法。

  Q&A Sebastian,你能說說此次發(fā)布的詳細情況嗎?

  正如之前提到的,這款聯(lián)合開發(fā)的PIC測試解決方案進行第一次現(xiàn)場演示的場合是OFC。我們用的標(biāo)語是PIC:體積小,影響大”,因為它說明了這種測試對市場的重要意義。

  這款全自動測試解決方案在OFC期間進行了演示。眾所周知,人們通常沒有機會在潔凈的機房/實驗室以外的地方看到,因此這次演示為參會者很好地展示了這款解決方案的速度、靈活性和可擴展性,受到與會者的好評。

  Q&A Lawrence,你能談?wù)?A href="http://lakesideeventsmn.com/site/CN/Search.aspx?page=1&keywords=EXFO&column_id=ALL&station=%E5%85%A8%E9%83%A8" target="_blank">EXFO的測試解決方案如何工作,以及它給組合的解決方案帶來了什么?

 

  EXFO提供了先進、自動的PIC測試設(shè)備,由于它們能夠迅速提供準(zhǔn)確、可靠的結(jié)果,因此在業(yè)界幾乎無可匹敵。

  CTP10和T100S-HP結(jié)合起來,即使在最嚴(yán)格的條件下,也能以皮米分辨率對無源光元件進行高速的掃頻激光器測試。得益于CTP10的自動準(zhǔn)直功能,可以用最短的時間在PIC測試中為晶圓找到最佳位置。

  Q&A Ashkan, HPE發(fā)揮了什么作用?HPE的承諾對行業(yè)意味著什么?

  HPE致力于提供更好的計算機硬件,以應(yīng)對所有網(wǎng)絡(luò)運營商目前遇到的數(shù)據(jù)洪流。

  首先,在晶圓層面,HPE和客戶使用HPE的硅光子學(xué)(SiPh)技術(shù)進行共同設(shè)計/優(yōu)化。

  我可以很高興地說,HPE的晶圓技術(shù)是EXFO、HPE和MPI協(xié)作解決方案的核心。

  Q&A Sebastian,MPI的技術(shù)是如何集成的?

  MPI的PIC專用晶圓探針臺能夠通過獨特的SENTIO®軟件實現(xiàn)精確的光元件準(zhǔn)直和其它專用功能。這是市場上最先進的探針控制軟件,可提供極其直觀的探針控制功能。

  我們期待與EXFO和HPE一起,幫助客戶實現(xiàn)當(dāng)今市場上最精確的晶圓上測量。

【加入收藏夾】  【推薦給好友】 
免責(zé)聲明:凡本網(wǎng)注明“訊石光通訊咨詢網(wǎng)”的所有作品,版權(quán)均屬于光通訊咨詢網(wǎng),未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。 已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用,反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
※我們誠邀媒體同行合作! 聯(lián)系方式:訊石光通訊咨詢網(wǎng)新聞中心 電話:0755-82960080-168   Right