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泰克科技亮相新一代采樣示波器 實(shí)現(xiàn)光通信廠商測(cè)試升級(jí)

摘要:CIOE2020期間,光通信創(chuàng)新測(cè)試方案供應(yīng)商泰克科技(Tektronix)展示其一系列的光通訊信號(hào)質(zhì)量測(cè)試系統(tǒng)方案和新型示波器系列,并攜手知名光模塊制造商,采用泰克科技最新400G PAM4測(cè)試方案,開(kāi)展400G光模塊的Live Demo演示。

  ICC訊(編輯:Aiur) CIOE2020期間,光通信創(chuàng)新測(cè)試方案供應(yīng)商泰克科技(Tektronix)展示其一系列的光通訊信號(hào)質(zhì)量測(cè)試系統(tǒng)方案和新型示波器系列,并攜手知名光模塊制造商,采用泰克科技最新400G PAM4測(cè)試方案,開(kāi)展400G光模塊的Live Demo演示。

泰科技科技展位

  隨著光通信行業(yè)提出高帶寬、長(zhǎng)距離相干、調(diào)頂技術(shù)、PAM4信號(hào)等技術(shù)要求,為幫助光通訊廠商迎接上述高階挑戰(zhàn),提升信號(hào)測(cè)試效率和準(zhǔn)確性,泰克科技通過(guò)新型示波器的實(shí)時(shí)演示,展示公司各類(lèi)創(chuàng)新測(cè)試方案,獲得來(lái)自系統(tǒng)設(shè)備商、模塊廠商和芯片廠商客戶家的高度評(píng)價(jià)與認(rèn)可。

  400G PAM4測(cè)試方案 全新一代光采樣示波器

  本次光博會(huì),泰克科技亮點(diǎn)產(chǎn)品是最新400G PAM4測(cè)試方案,該方案采用全新一代光采樣示波器TSO820和CDR時(shí)鐘恢復(fù)模塊TCR801,可以高效提升400G PAM4模塊生產(chǎn)測(cè)試能力與效率。據(jù)泰克科技專家周英航介紹,公司攜手索爾思光電共同進(jìn)行最新400G PAM4測(cè)試方案的實(shí)時(shí)演示,整套演示基于400G DR4光模塊,可實(shí)現(xiàn)四路通道信號(hào)輸出,單通道可到53.125GBaud PAM4信號(hào)和100G比特率。


全新一代光采樣示波器實(shí)測(cè)400G DR4光模塊性能

  從現(xiàn)場(chǎng)演示鏈路看到,信號(hào)從模塊出來(lái)后會(huì)經(jīng)過(guò)兩個(gè)分光器,第一個(gè)分光器將信號(hào)進(jìn)行20%:80%的光分,20%信號(hào)能量會(huì)被輸入到CDR模塊進(jìn)行時(shí)鐘恢復(fù)。剩余80%信號(hào)能量在經(jīng)過(guò)第二個(gè)分光器時(shí)又會(huì)進(jìn)行50%:50%的光分,隨后進(jìn)入示波器的通道1A和通道1B,兩個(gè)通道信號(hào)接收幅度一致。示波器對(duì)進(jìn)入信號(hào)進(jìn)行測(cè)試,其結(jié)果顯示為一個(gè)通道1.13,另一個(gè)通道1.16的優(yōu)秀DTECQ數(shù)值,相近的數(shù)值證明了新一代采樣示波器具備優(yōu)秀的一致性表現(xiàn)。

  如何提高光模塊生產(chǎn)效率的問(wèn)題?周博士表示光模塊生產(chǎn)流程劃分成多個(gè)步驟,由于內(nèi)部光器件個(gè)體差別導(dǎo)致了部分環(huán)節(jié)調(diào)整的可能性,因此產(chǎn)線測(cè)試要滿足客戶自己的生產(chǎn)指標(biāo),就需要反復(fù)測(cè)試與調(diào)試,解決這一問(wèn)題正是泰克科技新型采樣示波器TSO820的擅長(zhǎng)能力。

基于400G PAM4測(cè)試方案和全新采樣示波器的光模塊眼圖效果

  首先,新產(chǎn)品的采樣速率相比上一代實(shí)現(xiàn)很大的提高,例如SSPRQ碼型的捕獲速度就是傳統(tǒng)產(chǎn)品10倍,意味著只需要原先1/10時(shí)間就能獲取這個(gè)波形。其次,在調(diào)測(cè)環(huán)節(jié)上,泰克科技有專門(mén)的PAM4測(cè)試總結(jié)團(tuán)隊(duì),保證10秒內(nèi)完成四通道的一次性調(diào)測(cè),這一步驟在傳統(tǒng)的光模塊生產(chǎn)流程中會(huì)占用模塊廠商較多的測(cè)試時(shí)間。新型采樣示波器可以幫助客戶在完成光模塊生產(chǎn)步驟后,再通過(guò)一次完整的測(cè)試就能輸出報(bào)告結(jié)果給客戶。

  據(jù)介紹,400G PAM4測(cè)試方案Live Demo演示吸引了某大型設(shè)備廠商,在現(xiàn)場(chǎng)用自己模塊與泰克科技400G PAM4測(cè)試進(jìn)行組合,成功復(fù)制了相同的測(cè)試結(jié)果,客戶給予泰克科技高度的認(rèn)可。

  高性能實(shí)時(shí)示波器 同時(shí)測(cè)試相干光和NRZ/PAM4信號(hào)

  針對(duì)相干光測(cè)試和NRZ/PAM4信號(hào)測(cè)試的同時(shí)需求,泰克科技展示了DPO70000SX高性能實(shí)時(shí)示波器,據(jù)泰克科技專家趙凱介紹,低噪聲、高保真信號(hào)在超高帶寬應(yīng)用中至關(guān)重要,典型如超長(zhǎng)距離相干光通信、400G數(shù)據(jù)通信和寬帶RF。泰克科技的DPO70000SX高性能實(shí)時(shí)示波器采用公司獨(dú)有專利ATI(異步時(shí)序交織)結(jié)構(gòu),實(shí)現(xiàn)了70GHz和200 GS/s(5ps/樣點(diǎn))的實(shí)時(shí)采集性能。

泰克科技專家詳解相干光和NRZ/PAM4信號(hào)測(cè)試

  趙凱表示,光信號(hào)轉(zhuǎn)換成四路電信號(hào)后,會(huì)經(jīng)過(guò)示波器完成高速采樣,由于相干光是一個(gè)高級(jí)調(diào)制方式,其采樣信號(hào)和原始信號(hào)完全不同,需要經(jīng)過(guò)軟件對(duì)采樣信號(hào)進(jìn)行分析,得出具體I/Q數(shù)據(jù)。同時(shí),DPO70000SX高性能實(shí)時(shí)示波器還會(huì)對(duì)相干光信號(hào)質(zhì)量進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試范圍涵蓋100G、200G、400G以及更高速800G相干。

DPO70000SX高性能實(shí)時(shí)示波器系統(tǒng)

  隨著網(wǎng)絡(luò)需求的增加,遠(yuǎn)距離通信變得越來(lái)越復(fù)雜。信號(hào)已從簡(jiǎn)單的開(kāi)關(guān)鍵控形式發(fā)展為 DP-QPSK 和 PM-16QAM 等復(fù)雜的調(diào)制格式。對(duì)于100G、400G、1Tb/s及以上的最新通信體系,需要使用高級(jí)測(cè)試工具進(jìn)行測(cè)試。泰克科技是能夠提供完整相干光測(cè)試系統(tǒng)(從信號(hào)發(fā)生到調(diào)制、采集和分析)的唯一測(cè)試和測(cè)量供應(yīng)商。

  G.Metro調(diào)頂測(cè)試解決方案 準(zhǔn)確實(shí)現(xiàn)調(diào)頂信號(hào)采集和測(cè)試

  隨著5G 光網(wǎng)絡(luò)和數(shù)據(jù)中心趨向開(kāi)放、解耦,以及全光網(wǎng)ROADM建設(shè)要求,國(guó)內(nèi)運(yùn)營(yíng)商對(duì)光模塊提出了需要通過(guò)幅度調(diào)制為網(wǎng)絡(luò)提供OAM能力的調(diào)頂要求。泰克科技專家劉健表示,泰科技調(diào)頂測(cè)試解決方案基于ITU-T G.Metro標(biāo)準(zhǔn),方案包含正弦及NRZ格式的數(shù)據(jù)調(diào)頂,為不影響光信號(hào)的消光比等指標(biāo),在原有光信號(hào)上加入淺度的幅度調(diào)制。經(jīng)過(guò)調(diào)制的信息可以監(jiān)控光模塊工作狀態(tài),從而反向調(diào)節(jié)光模塊的波長(zhǎng)、功率等。

G.Metro調(diào)頂測(cè)試解決方案

  劉健認(rèn)為解決方案難點(diǎn)在于原始信號(hào)的低頻調(diào)制,對(duì)于低幅度、弱信號(hào)的調(diào)制要求較高,需要精確的示波器進(jìn)行采集。泰克科技MSO5/6系列示波器具備業(yè)內(nèi)最高的12比特垂直分辨率以及優(yōu)異的噪聲性能,可準(zhǔn)確地進(jìn)行調(diào)頂信號(hào)采集測(cè)試。同時(shí),MSO5/6系列示波器具備包含RFvT能力和Spectrum View頻譜分析功能的DDC硬件,可以直觀看到調(diào)頂信號(hào)里的正弦波頻率及頻譜。

  在調(diào)試上,MSO5/6系列示波器還具備混合數(shù)字通道、NRZ及曼徹斯特解碼能力。作為一個(gè)完整的方案,MSO5/6系列示波器不僅能測(cè)試調(diào)頂信號(hào)的質(zhì)量,同時(shí)還為解碼提供一定的調(diào)試,并且覆蓋從光信號(hào)到MCU各個(gè)測(cè)試點(diǎn)的調(diào)頂信號(hào)分析。

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