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Dimension:高性能免纏繞插回?fù)p測(cè)試方案

摘要:維度科技的高性能免纏繞插回?fù)p測(cè)試方案,采用自研的高性能光源和高精度光功率計(jì),很好地解決了插回?fù)p測(cè)試中經(jīng)常遇到的諸如測(cè)試效率低、測(cè)試范圍小、需要纏繞、不能測(cè)量較短光纖等問(wèn)題,具有前所未有的易用性和突出優(yōu)勢(shì),是目前單芯、MPO光纖跳線、連接器及其他無(wú)源器件插回?fù)p性能測(cè)試的理想選擇。

  ICC訊 維度科技的高性能免纏繞插回?fù)p測(cè)試方案,采用自研的高性能光源和高精度光功率計(jì),很好地解決了插回?fù)p測(cè)試中經(jīng)常遇到的諸如測(cè)試效率低、測(cè)試范圍小、需要纏繞、不能測(cè)量較短光纖等問(wèn)題,具有前所未有的易用性和突出優(yōu)勢(shì),是目前單芯、MPO光纖跳線、連接器及其他無(wú)源器件插回?fù)p性能測(cè)試的理想選擇。

 

  附:接口選型列表:

 

  更多詳情:http://www.dimension-tech.com

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