測試案例 | VIAVI力助中國電信開拓創(chuàng)新，實現(xiàn)G.654E長距離高速傳輸型光纖測試

  ICC訊 2021年9月22日，中國電信建成業(yè)界首條全G.654E陸地干線光纜，并完成了業(yè)界首次基于G.654E光纜的400Gb/s超長距現(xiàn)網(wǎng)傳輸試驗。

  中國電信在國內(nèi)率先建成該干線光纜，推動了G.654E產(chǎn)業(yè)鏈的成熟，對干線光纜網(wǎng)從G.652D邁入G.654E新型光纖時代具有引領(lǐng)作用，對建設(shè)綠色低碳全光網(wǎng)絡(luò)具有積極且重要的示范意義。

400G+需求使G.654.E

成為超高傳輸技術(shù)光纖主流

  隨著5G時代的數(shù)據(jù)流量不斷增長，承載網(wǎng)的數(shù)據(jù)傳輸和帶寬壓力不斷增加，骨干網(wǎng)傳輸速率將從100G不斷向200G/400G等更高速率升級。超100G網(wǎng)絡(luò)在整體市場份額中將超過60%，并且400G+將成為超100G網(wǎng)絡(luò)的主流應(yīng)用。從骨干網(wǎng)層面來看，單波400G即將開啟，并進(jìn)入長周期。

  因此，提前部署支持200G、400G系統(tǒng)的光纖光纜產(chǎn)品是建設(shè)高速信息網(wǎng)絡(luò)的基礎(chǔ)。但是，現(xiàn)網(wǎng)中使用的G.652光纖，已經(jīng)無法滿足未來光傳輸網(wǎng)絡(luò)超高速率、超大容量、超長距離的傳輸需要。

  將視線回落到光纖技術(shù)的發(fā)展，其正呈現(xiàn)出三大趨勢：低/超低損耗光纖、大有效面積光纖、大有效面積和低/超低損耗光纖。

  國內(nèi)廠商在選擇技術(shù)路徑時，基本都選擇了將大有效面積和低/超低損耗結(jié)合，而同時滿足超低損耗和大有效面積兩大特性的超低損耗大有效面積G.654.E光纖是400G/1T系統(tǒng)的最佳選擇。

G.654.E光纜的熔接機熔接及測試需求明顯提升

  G.654.E光纖更具優(yōu)勢，但在部署過程的工程方面卻有不少困難，主要反饋熔接一次成功率低，導(dǎo)致光纜接續(xù)時間長。通過分析，主要原因來自于：

  1、環(huán)境因素，工程反映不同季節(jié)熔接成功率差異大，車內(nèi)施工有利于改善質(zhì)量;

  2、裝備原因，熔接機自動接續(xù)模式下，熔接損耗缺乏穩(wěn)定性。

  G.654.E較寬泛的模場直徑——不同廠家纖芯互熔產(chǎn)生較大接續(xù)損耗(高達(dá)0.2dB)。

  G.654.E的大有效面積——某些熔接機無法準(zhǔn)確識別纖芯、包層，需要設(shè)為包層對準(zhǔn)、甚至多模模式才能熔接，對熔接損耗有潛在影響。

  G.652.D和G.654.E在折射率剖面設(shè)計、模場直徑差異明顯——二者互熔存在熔接損耗過大、反射明顯。

  也正是因為G.654.E光纜的熔接機熔接及測試需求明顯提升，更加精準(zhǔn)OTDR雙向測試驗收成為必要選擇之一。

  熔接損耗數(shù)據(jù)：G.654和G.652熔接，比同種光纖熔接時大0.081dB(統(tǒng)計數(shù)據(jù))

  法蘭損耗數(shù)據(jù)：G.654和G.652之間法蘭鏈接耗損，比同種光纖法蘭連接時大0.102dB(統(tǒng)計數(shù)據(jù))

  雙向測試可消除光纖增益影響，測試熔接點實際損耗，科學(xué)輔助工程驗收

  同時，測試過程中VIAVI獨家的“自動真雙向測試”還提供了更優(yōu)的測試效果：更全面的光纖指標(biāo)及聯(lián)通測試;高效自動化測試;測試實時給出雙向測試結(jié)果，方便即時處理故障并查找問題。

  【VIAVI光纖測試產(chǎn)品組合】

  針對本次“G.654.E OTDR測試方案”、1550nm波長結(jié)果分析、1625nm波長結(jié)果分析、熔接增益及雙向測試、智能真雙向測試和G.654.E干線色散測試方案的全面測試過程和測試數(shù)據(jù)，請點擊獲取《G.654E長距離高速傳輸型光纖測試案例分享》報告。